

首页 -> 产品中心X-Rite Elcometer 406光泽度测量仪
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爱色丽X-Rite光泽度测量是通过以某个角度射出一束恒定功率光束来测试表面并监控反射光来完成的。 不同的表面需要不同的反射角度。越来越多的规范和标准都要求对光泽度进行物理评估。 光泽度测量对监测涂层的均匀度、一致性甚至是保护性光泽涂层的损坏度是很有必要的。X-Rite Elcometer 406 Novo-Gloss 微型光泽度测量仪具有 60°统计型和双角度 20/60°统计型两个版本,允许对从亮光到不光滑的任何表面进行测量,提供光泽度测量的数值。 产品特点: l 自动校准 - 预设瓷片值选项,可供快速校准 l 唯一校准瓷片状态警告 l 所有从非反射表面到镜面光泽表面的光泽度读数 l 对可变表面进行连续测量 l 可使用任何标准进行校准(AS 1580-602.2、ASTM 523、ASTM D 1455、ASTM C 584、BS 3900-D5 BS 6161-12、DIN 67530、ECCA T2、ISO 2813、ISO 7668) l 可完全溯源至国家标准,包括 BAM l 可内部计算最大值、最小值、平均值、标准偏差和偏差系数
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